Microscópio Raman Innova-IRIS
AFMpara a pesquisa sobre materiaisde bancada

Microscópio Raman - Innova-IRIS - Bruker Nano Surfaces - AFM / para a pesquisa sobre materiais / de bancada
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Características

Tipo
Raman, AFM
Aplicações
para a pesquisa sobre materiais
Configuração
de bancada

Descrição

O Innova-IRIS combina o desempenho AFM líder da indústria e sondas TERS exclusivas da Bruker para fornecer a única solução completa e garantida de espetroscopia Raman com ponta (TERS) do mundo. Combina-se perfeitamente com o sistema inVia micro-Raman da Renishaw, preservando totalmente as capacidades de cada componente separado. O resultado é uma plataforma produtiva e completamente integrada para mapeamento de propriedades correlacionadas em micro e nanoescala, que amplia os limites das aplicações de AFM para nanoespectroscopia e análises nanoquímicas. Colocalizado AFM e microscopia Raman Oferece TERS de alto desempenho com capacidades SPM completas. Proprietário Sondas TERS Apresentam interferência espetral zero para a mais alta resolução espacial e garantia de TERS. Simplificadas hardware e software Reduzir a complexidade das configurações TERS tradicionais. Concebido especificamente para permitir TERS O registo de publicações prova que uma geometria de reflexão fora do eixo é a melhor solução para maximizar a captura de luz, ao mesmo tempo que considera totalmente os efeitos de sombreamento e polarização da ponta. A Innova-IRIS utiliza uma arquitetura ótica inovadora que acede à junção ponta-amostra a partir da parte frontal da sonda para proporcionar um caminho ótico ideal livre de obstruções. A integração co-concebida do AFM de varrimento de amostras Bruker Innova com o sistema inVia Micro-Raman da Renishaw retém de forma única o alinhamento ótico do "ponto quente" durante o varrimento para permitir os requisitos rigorosos da imagiologia TERS integrada. A integridade e o posicionamento da ponta são preservados durante os longos tempos de integração do sinal necessários para uma investigação tão sensível.

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8 Páginas
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