Cada segundo conta para o controlo do processo e da qualidade. Os resultados dos testes são urgentemente necessários a partir do momento em que a amostra é recebida. O XRF2501 está equipado com uma interface simples e intuitiva que lhe permite carregar amostras, tocar no botão e obter resultados de alta qualidade em segundos.
Em comparação com a tecnologia de análise AAS, AFS, ICP e ICP-MS, o XRF2501 não necessita de dissolver e digerir amostras, nem de utilizar reagentes químicos. A velocidade de análise é rápida sem destruir as amostras. O XRF2501 pode ser utilizado para analisar amostras, quer sejam sólidas ou líquidas, prensadas ou em pó, grandes ou pequenas.
Ampla aplicabilidade:
Adequado para amostras sólidas, líquidas, em pó e de partículas.
Fácil operação:
Não há necessidade de um pré-processamento complicado da amostra. Os utilizadores só precisam de colocar as amostras na área de teste e clicar em Iniciar para concluir a análise.
Elevada eficiência:
1-15min para análise de uma única amostra (que pode ser ajustada conforme necessário).
Design modular:
A combinação livre, conforme necessário, adapta-se a uma variedade de cenários de utilização.
Baixo custo:
Não são necessários produtos químicos ou outros consumíveis e não é consumido hélio no modo de vácuo.
Melhor resolução e CR:
Adotar a nova geração de detectores de desvio de silício VITUS da Alemanha com a melhor taxa de contagem e resolução de energia. Utiliza plenamente a saída do tubo ótico de 50W de potência, garantindo que o XRF2501 tenha alta estabilidade e sensibilidade.
Ampla gama:
Todos os elementos de Na-U são testados em concentrações que variam de PPM a 100%.
Funcionamento seguro:
A câmara de teste do instrumento adopta medidas de proteção tripla, incluindo cobre espesso, design de interbloqueio eletrónico e interrupção de software, garantindo absolutamente que não há fugas de raios X em qualquer ambiente de teste.
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