Microscópio óptico SH-5500P
de raios XSEMde laboratório

Microscópio óptico - SH-5500P - Hirox Europe - de raios X / SEM / de laboratório
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Características

Tipo
óptico, de raios X, SEM
Aplicações
de laboratório
Técnica
3D, espectral
Configuração
de bancada
Opções e acessórios
motorizado
Ampliação

150 unit

Resolução espacial

5 nm

Descrição

Este microscópio electrónico é o primeiro SEM de mesa de qualidade superior a combinar uma plataforma de 5 eixos totalmente motorizada e uma câmara de grandes dimensões que permite a colocação de amostras de grandes dimensões. A alta tensão é ajustável de 1 a 30 kV (6 passos). - Compatível com Window 10 - 5 eixos totalmente motorizados - A inclinação de -45 a +90 graus permite uma observação perfeita da amostra. - Permite a reconstrução 3D com imagens estéreo SE emparelhadas ou a partir de 4 imagens BSE - Inclinação de 70 graus para EBSD disponível (opção) - Tamanho máximo da amostra: diâmetro 80mm, espessura 40mm Interface gráfica fácil de utilizar Câmara CCD com navegador de plataforma Uma câmara CCD ligada ao SEM permite captar uma imagem do suporte de amostras com as amostras. A imagem é automaticamente carregada no software do MEV. Para se deslocar sobre a amostra, basta clicar na imagem e a platina desloca-se. Especificações padrão Até 5120*3560 pixéis de imagem Resolução do feixe 5nm (SE) 4 aberturas variáveis e tamanho de ponto variável contínuo Modos de alta e baixa ventilação Detector SE e BSE Modo duplo 1 a 30 kV (6 passos 5kV) Ajustes automáticos Navegador de estágio 5 eixos 2 modos: Alto vácuo e Baixo vácuo 2 detectores de electrões: SE e BSE (4 díodos) EDS integrado da BRUKER Nano O SH-5500P está preparado para a análise EDS (ESPRIT 2.1 da BRUKER) e também para a análise EBSD, ambas em conjunto. Estão disponíveis dois modelos EDS: QUANTAX 100 Detector integrado de desvio de silício (SDD) sem azoto Detecção desde o boro até ao urânio, 129ev Resolução 10 & 30 mm² Software de análise qualitativa e quantitativa QUANTAX 100 Avançado Aquisição de espectro multiponto e por área Perfil de linha Mapeamento de raios X e imagem espectral Câmara versátil para ferramentas especiais Características opcionais

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