Microscópio SEM SU9000 II

TEMSTEMcrioeletrônico

O SU9000 II é uma combinação de SEM de imagem de superfície e microscópio de transmissão de varrimento com resolução de estrutura intrínseca (STEM) optimizado para uma resolução extrema. Isto é possível graças à ótica de electrões única do SU9000 II, que combina um emissor de campo frio com emissão quase monocromática com uma lente objetiva "inlens". A amostra é colocada num suporte "side-entry" altamente estável, virtualmente dentro da lente objetiva de duas fases. À semelhança do SU8600, está disponível um sistema de detetor de duas fases, filtrado por energia, expansível com um detetor de retrodifusão móvel, para imagens SEM. No modo de transmissão, o sinal TE pode ser detectado simultaneamente com a imagem SEM seletivamente de acordo com os ângulos de dispersão (campo claro, campo escuro variável) com uma resolução de grelha inferior a 3 Å. Um detetor EDX grande e sem janelas com um ângulo sólido de até 0,7 sr pode ser montado perto da amostra para análise elementar de alta resolução tanto no modo SEM como STEM. Caraterísticas do produto: - Combinação SEM-STEM com sinal SEM filtrado por ExB e deteção de sinal de transmissão dependente do ângulo de dispersão - O emissor de campo frio combinado com a ótica de electrões inlens garante uma resolução SE de 0,4 nm e uma resolução TE de 0,34 nm a uma tensão de aceleração de 30k - Excelente análise de elementos leves, devido ao suporte ótimo de um detetor EDX sem janela pela lente de imersão magnética. Ou a utilização de um espetrómetro de perda de energia