Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo SU7000
para pesquisain situBF-STEM

Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - para pesquisa / in situ / BF-STEM
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - para pesquisa / in situ / BF-STEM
Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - para pesquisa / in situ / BF-STEM - imagem - 2
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Características

Tipo
eletrônico de varredura por emissão de campo
Aplicações
para pesquisa
Técnica
BF-STEM, DF-STEM, in situ
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo Schottky
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários
Outras características
de ultra-alta resolução, para nanotecnologia, para aquisição simultânea
Ampliação

MÁX: 2.000.000 unit

MÍN: 20 unit

Resolução espacial

0,8 nm, 0,9 nm

Descrição

O SU7000 é ideal para amostras grandes ou pesadas e para integrar uma vasta gama de acessórios. Estes acessórios incluem detectores analíticos ou acessórios de palco para manipulação de amostras in-situ (estiramento [tração] / compressão, aquecimento/arrefecimento, sondagem, secções em série de micrótomo, etc.). Equipado, tal como o SU8700, com a ótica universal de electrões de alta resolução e sem campo da Hitachi (constituída por um emissor Schottky e um amplificador de feixe), o SU7000 possui também uma grande câmara de amostras analíticas com uma plataforma de amostras totalmente retrátil. A plataforma é adequada para amostras até 200 mm de diâmetro, 80 mm de altura e 2 kg de massa. É fornecido com vários pontos de acesso à câmara na câmara de amostras e na porta da câmara. A fácil navegação na plataforma é possível graças a uma câmara a cores integrada. Caraterísticas do produto: - Emissor de campo Hitachi Schottky durável e estável com corrente de sonda até 200nA - Brilhante desempenho de imagem - sem necessidade de um campo oposto na amostra - desde 100V (opção de 10V) até 30kV de tensão de aceleração - Grande câmara de amostras analíticas com muitas portas de acesso para acessórios e uma plataforma de amostras eucêntrica para amostras até 80 mm de altura e 200 mm de diâmetro - A distância de trabalho EDX analítica de 6 mm permite um trabalho simultâneo ou de mudança rápida de alta resolução e analítico

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