Microscópio SEM TM4000PlusIII
de laboratóriopara pesquisapor contraste topográfico

Microscópio SEM - TM4000PlusIII - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratório / para pesquisa / por contraste topográfico
Microscópio SEM - TM4000PlusIII - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratório / para pesquisa / por contraste topográfico
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Características

Tipo
SEM
Aplicações
de laboratório, para pesquisa
Técnica
por contraste topográfico, por contraste de número atômico
Configuração
de bancada, compacto
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários
Outras características
de alta resolução, de elevado contraste, automático, de varredura com pressão variável, para nanotecnologia, com câmera digital
Ampliação

MÁX: 250.000 unit

MÍN: 10 unit

Comprimento

617 mm
(24,3 in)

Descrição

Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço de tempo possível com boa resolução, profundidade de campo e contraste entre diferentes materiais. Tudo isto sem uma preparação demorada (sem revestimento). Se necessário, também é possível determinar a composição química e a distribuição dos elementos. A navegação fácil na plataforma de amostras motorizada X,Y é efectuada através de uma visão geral fotográfica a cores, com zoom, gerada automaticamente. Esta pode ser complementada localmente por fotografias SEM. Caraterísticas do produto: - EDX com tamanho de sensor de 30mm2 ou 60mm2 pode ser totalmente integrado, comutação imediata entre observação e análise de elementos - 4 tensões de aceleração 5 | 10 | 15 | 20kV com 5 modos de corrente de sonda cada - Câmara ótica de navegação a cores - 3 estágios de pressão da câmara - detetor de electrões retrodifundidos de 4 segmentos - Leitura da corrente de sonda e funcionalidade IFT

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