Microscópio STEM HF5000
TEMde laboratóriopara a pesquisa sobre materiais

Microscópio STEM - HF5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - TEM / de laboratório / para a pesquisa sobre materiais
Microscópio STEM - HF5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - TEM / de laboratório / para a pesquisa sobre materiais
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Características

Tipo
TEM, STEM
Aplicações
de laboratório, para a pesquisa sobre materiais
Técnica
BF-STEM, DF-STEM
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo frio
Tipo de detector
de elétrons secundários
Outras características
de alta resolução, automático, para nanotecnologia
Ampliação

MÍN: 20 unit

MÁX: 8.000.000 unit

Resolução espacial

0,08 nm, 0,1 nm

Descrição

O HF5000 é um S/TEM com correção de Cs, personalizável para experiências in-situ. A caraterística especial é proporcionada pelo detetor Everhart Thornley SE, que capta imagens da superfície da amostra a 60-200kV, tal como num SEM. Isto é particularmente vantajoso para experiências in-situ de gás e aquecimento, nas quais o gás reage com a superfície da amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor de Cs totalmente automatizado, mesmo para principiantes no campo do TEM. Caraterísticas do produto: - Fonte de electrões de emissão de campo frio com emissão de banda energeticamente estreita, ideal para imagens de alta resolução e EELS - Corretor de Cs Hitachi STEM, totalmente automatizado - Detetor de electrões secundários para informação sobreposta na superfície da amostra em correlação com o sinal dos electrões transmitidos - Experiências ETEM possíveis, por exemplo, numa atmosfera gasosa aberta

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ESCMID Global 2025
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11-15 abr 2025 VIENNA (Áustria)

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    CONTROL 2025
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    6-09 mai 2025 Stuttgart (Alemanha)

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