Sistema automático de preparação de amostras ZONESEM II

para microscopia eletrônicade laboratóriode limpeza

Os utilizadores de SEM e STEM / TEM conhecem o problema: a obtenção de imagens de alta resolução é muitas vezes prejudicada (ou mesmo completamente impossibilitada) pela rápida acumulação de uma película de carbono na área de observação. Isto é normalmente causado por hidrocarbonetos gasosos que são continuamente depositados durante a observação devido à transferência de energia do feixe de electrões. A fonte destes hidrocarbonetos pode ser um vácuo não ótimo da câmara, que pode ser tipicamente melhorado com limpadores de plasma com elevada entrada de energia, ou mais suavemente com a fonte de luz excimer "Sparkle" da Hitachi. Na maioria dos casos, contudo, os objectos de observação e os próprios suportes de amostras são a fonte dominante de contaminação. Neste caso, o tratamento com plasma revela-se muitas vezes demasiado duro, no sentido de alterar ou mesmo destruir a amostra. Os produtos de limpeza ZONE da Hitachi para SEM e TEM oferecem uma alternativa suave e inteligente baseada na luz ultravioleta e nos radicais de oxigénio livres: remoção rápida e completa dos hidrocarbonetos interferentes com um consumo de energia significativamente reduzido em comparação com os produtos de limpeza por plasma. Os aparelhos de limpeza de amostras da família de produtos ZONE estão equipados com lâmpadas UV com comprimentos de onda de 185 nm e 254 nm, que atacam as ligações típicas dos hidrocarbonetos, quebram as moléculas de oxigénio e geram componentes reactivos sob a forma de ozono. A bomba de diafragma integrada gera um vácuo moderado ajustável entre 13 e 67kPa. A pressão da câmara pode ser utilizada para otimizar o mecanismo de limpeza entre mais oxidativo ou mais físico, dependendo do tipo de amostra. Caraterísticas do produto: - Para amostras até 100 mm de Ø e 37 mm de altura - Função de limpeza e armazenamento - Memória de receitas - Tempos de processamento típicos 5-15 minutos