Microscópio AFM AFM100 Plus

multifuncionalde pequenas dimensões

A série AFM100 é a plataforma de microscopia de sonda da próxima geração da Hitachi. Os sistemas AFM100 Plus e AFM100 que compõem esta série foram concebidos para expandir as capacidades e o desempenho da microscopia de força atómica, ao mesmo tempo que proporcionam uma plataforma de fácil utilização, adequada a utilizadores de todos os níveis de experiência. Experimente a melhor fiabilidade e inovação com a série AFM100. Características Desafios para o manuseamento de cantilevers convencionais - É difícil agarrar um cantilever com pinças tradicionais devido ao seu tamanho reduzido. - Os cantilevers danificam-se muito facilmente com uma ligeira pressão. - A variação da posição de montagem pode causar problemas de orientação e funcionamento. Os cantilevers pré-montados optimizam o processo para uma maior eficiência e consistência - Procedimento simples de montagem da ponta num só passo - Fácil de manusear sem risco de danos físicos - Consistência garantida da orientação das pontas - Propriedades mecânicas e eléctricas fiáveis Medição e análise automatizadas com função de piloto automático de um clique Efectue medições e análises com um clique! - Medição automática de vários pontos numa amostra - Medição contínua de várias amostras ► Melhoria global do rendimento Ajustes automáticos com RealTune® Il RealTune* II: Uma função para ajustes automáticos de parâmetros ► Otimização automatizada das condições de imagem - SIS: Amostragem de varrimento inteligente ► Excelente seguimento ponta-amostra mesmo com características de superfície de elevado rácio de aspeto ► Desgaste reduzido da sonda e vida útil mais longa Análise correlativa SEM-EDS com a nossa função de marcação AFM Analisar a mesma região de interesse (ROI) com SEM, EDS e AFM: Mais informação = Melhores resultados!