Microscópio óptico SU9000II
SEMde laboratóriovertical

Microscópio óptico - SU9000II - Hitachi High-Technologies - SEM / de laboratório / vertical
Microscópio óptico - SU9000II - Hitachi High-Technologies - SEM / de laboratório / vertical
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Características

Tipo
óptico, SEM
Aplicações
de laboratório
Ergonomia
vertical
Configuração
de pequenas dimensões
Outras características
de alta resolução
Ampliação

3.000.000 unit

Resolução espacial

0,4 nm, 0,7 nm

Descrição

A fonte de Emissão de Campo Frio é ideal para a obtenção de imagens de alta resolução com um tamanho de fonte e dispersão de energia reduzidos. A inovadora tecnologia CFE Gun contribui para o melhor FE-SEM com brilho e estabilidade de feixe superiores, proporcionando imagens de alta resolução e análise elementar de alta qualidade. Para permitir uma aquisição de dados estável nos níveis de desempenho mais elevados do instrumento, o SU9000II oferece novas capacidades que permitem ajustes automáticos do sistema ótico - e o novo pacote de software EM Flow Creator como opção para tornar a aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Características O novo design do canhão CFE proporciona um brilho elevado e uma corrente de emissão extremamente estável. Desempenho superior a baixa kV para observação de materiais sensíveis ao feixe. A resolução SE de 0,7 nm mesmo com uma tensão de aterragem de 1,0 kV (com opção de função de desaceleração) é garantida. As novas capacidades que permitem ajustes automáticos do sistema ótico e uma função opcional que permite a aquisição automática de dados permitem a recolha sequencial de dados. Tecnologia de vácuo melhorada que permite níveis UHV para reduzir a contaminação das amostras. Invólucro do instrumento altamente projetado com resistência e estabilidade superiores para permitir a obtenção de imagens de alta resolução numa vasta gama de condições ambientais. A lente objetiva recentemente concebida permite obter imagens de alta resolução com uma baixa tensão de aceleração. O sistema de troca de amostras de entrada lateral aumenta o rendimento, reduzindo o tempo necessário para mudar as amostras e posicionando automaticamente a amostra no WD atual.

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