Sistema totalmente integrado baseado no microscópio de sonda de varrimento SmartSPM de última geração e no microespectrómetro XploRA Raman.
Compacto, totalmente automatizado e fácil de utilizar, o XploRA Nano concentra o poder do AFM-Raman num pacote acessível e completo, tornando a imagiologia TERS uma realidade para todos. O sistema comprovado TERS.
Plataforma de análise de várias amostras
As medições à escala macro, micro e nano podem ser efectuadas na mesma plataforma.
Fácil de usar
Operação totalmente automatizada, comece a medir em minutos, não em horas!
Verdadeira confocalidade
Alta resolução espacial, fases de mapeamento automatizadas, opções completas de visualização por microscópio.
Elevada eficiência de recolha
Deteção Raman de cima para baixo e oblíqua para uma resolução e rendimento óptimos em medições
medições co-localizadas e com reforço de ponta (Raman e fotoluminescência).
Elevada resolução espetral
Desempenho máximo de resolução espetral, grelhas múltiplas com comutação automática, análise de ampla gama espetral para Raman e PL.
Elevada resolução espacial
Resolução espectroscópica à nanoescala (até 10 nm) através de espectroscopias ópticas
Espectroscopias ópticas (Raman e fotoluminescência).
Multi-técnica / Multi-ambiente
Numerosos modos SPM, incluindo AFM, modos condutores e eléctricos (cAFM,
KPFM), STM, célula líquida e ambiente eletroquímico, juntamente com mapeamento químico
através de TERS/TEPL. Controlo total dos 2 instrumentos através de uma estação de trabalho e de um poderoso software de controlo, o SPM e o espetrómetro podem ser operados simultaneamente ou de forma independente
Robustez/Estabilidade
Scanners AFM de alta frequência de ressonância, funcionamento longe de ruídos! Elevada
desempenho é obtido sem isolamento ativo de vibrações.
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