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para espectrometria de massade análisede compartilhamento

Visualiza dados complicados de espectros de massa e acelera a partilha de informações! Características Análise do defeito de massa Kendrick (KMD) e sua aplicação a polímeros sintéticos A análise do defeito de massa de Kendrick (KMD) é um método proposto por Edward Kendrick em 1963 [1] que ainda hoje é utilizado no domínio petroquímico. Na espetrometria de massa, uma massa exacta obtida por um espetrómetro de massa de alta resolução utiliza um sistema de unidades com a massa de 12C sendo 12,0000 u, enquanto a massa de Kendrick (KM) utiliza um sistema de unidades de CH2 = 14,00000. É possível classificar os picos do espetro de massa de uma mistura extremamente complexa constituída principalmente por hidrocarbonetos, como o petróleo bruto, de acordo com o grau de insaturação dos hidrocarbonetos e a presença ou ausência de heteroátomos. O Instituto Nacional de Ciência e Tecnologia Industrial Avançada (AIST) e a JEOL Ltd. conseguiram aplicar o princípio do método de defeito de massa de Kendrick à análise de espectros de massa de alta resolução de polímeros [2]. Neste caso, KM é definido de modo a que a massa exacta do monómero, que é uma unidade de repetição, seja um número inteiro. A criação de um gráfico Kendrick Mass Defect (KMD) permite-lhe visualizar os tipos e números de polímeros em espectros de massa complexos sem atribuir picos de espetro de massa individuais. Recentemente, o método KMD de base de fração, o método KM remanescente, etc., foram propostos como tecnologias relacionadas que podem ser aplicadas à análise de polímeros numa vasta gama de massas e à análise estrutural de polímeros por MS/MS. Estas tecnologias KMD não só reduzem o tempo necessário para a análise de polímeros, como também facilitam a partilha de informações.