Espectrômetro de massa JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0
por tempo de voopara ciências da vidade bancada

Espectrômetro de massa - JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 - Jeol - por tempo de voo / para ciências da vida / de bancada
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Espectrômetro de massa - JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0 - Jeol - por tempo de voo / para ciências da vida / de bancada - imagem - 2
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Características

Tipo
de massa, por tempo de voo
Aplicações
para ciências da vida
Configuração
de bancada

Descrição

Espectrómetro de massa de dessorção/ionização por laser assistido por matriz e tempo de voo Clicar no botão Reproduzir inicia o vídeo (aprox. 4 minutos). O JMS-S3000 é um MALDI-TOFMS* que incorpora a inovadora ótica de iões SpiralTOF. O JMS-S3000 evoluiu para o SpiralTOF™-plus 2.0 com uma gama dinâmica muito mais alargada. O JMS-S3000 define um novo padrão de desempenho MALDI-TOFMS e fornece soluções analíticas de última geração para uma vasta gama de áreas de investigação, tais como polímeros sintéticos funcionais, ciência dos materiais e biomoléculas. Espectrómetro de massa de dessorção/ionização por laser assistido por matriz e tempo de voo Efeito topográfico reduzido do cristal da matriz O efeito topográfico do cristal da matriz leva a uma diferença na posição inicial de voo dos iões, resultando numa diferença no tempo de voo. No sistema ótico de iões convencional, esta diferença de tempo degrada o poder de resolução da massa e também a precisão da massa obtida com a calibração externa da massa. Com a sua distância de voo alargada, o JMS-S3000 reduz este efeito ao mínimo e consegue um poder de resolução de massa altamente reprodutível e uma elevada precisão de massa com uma calibração de massa externa. A elevada resolução e precisão de massa podem ser mantidas para a análise de imagens de uma amostra biológica em que um grande número de espectros de massa é adquirido numa grande área e a superfície da amostra é provavelmente irregular. Obtenção de uma vasta gama dinâmica O SpiralTOF™-plus 2.0 atingiu uma vasta gama dinâmica ao melhorar significativamente o sistema de deteção. Isto torna possível a deteção simultânea de picos com diferenças de intensidade de iões de cerca de 4 ordens de magnitude.

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