Microscópio eletrônico FIB JIB-PS500i

SEMTEMSTEM

O JIB-PS500i oferece três soluções para auxiliar a preparação de amostras TEM. O fluxo de trabalho de alto rendimento é assegurado desde a preparação da amostra até à observação TEM. Características LIGAÇÃO TEM A utilização do cartucho de dupla inclinação da JEOL e do suporte TEM* facilita a ligação entre o TEM e a FIB. O cartucho pode ser ligado ao suporte de amostras TEM dedicado com um simples toque. A OmniProbe 400* (Oxford Instruments) adoptada permite operações de recolha e manipulações precisas e suaves. As operações da OmniProbe 400* estão integradas no software do JIB-PS500i. Para preparar com precisão e eficiência uma amostra TEM, é essencial verificar rapidamente o progresso da preparação. Com o seu esquema de estágio e detetor de alta inclinação, o JIB-PS500i permite uma transição perfeita entre a fresagem FIB e a imagem de microscópio eletrónico de transmissão por varrimento (STEM). As transições rápidas entre o processamento de lâminas e a obtenção de imagens STEM conduzem a uma preparação eficiente das amostras. PREPARAÇÃO AUTOMÁTICA A JIB-PS500i automatiza a preparação de amostras utilizando o sistema automático de preparação de amostras TEM STEMPLING2*. Este sistema automático permite a qualquer operador preparar sem problemas as amostras para TEM. Imagens SEM de ALTA RESOLUÇÃO e ALTO CONTRASTE Deixe de hesitar, deixe de perder o ponto final na fresagem. As imagens SEM de alta qualidade ajudam-no. Sistema de deteção de sinais Estão disponíveis vários detectores, incluindo o SED padrão, o UED e o iBED. A seleção do detetor ideal permite observar imagens nítidas de vários espécimes sob várias condições experimentais.