Microscópio óptico JEM-F200

TEMSTEMde laboratório

O JEM-F200 é um microscópio eletrónico de transmissão por emissão de campo, que apresenta uma resolução espacial e um desempenho analítico mais elevados, juntamente com uma interface de utilizador intuitiva para um funcionamento polivalente. Caraterísticas Observações TEM/STEM de alta resolução desde tensões de aceleração elevadas a baixas O JEM-F200 oferece um canhão de electrões de emissão de campo frio, que garante alta estabilidade, alto brilho e alta resolução de energia (<0,33 eV). Este canhão de electrões permite obter imagens de alta resolução, minimizando as aberrações cromáticas provenientes da dispersão de energia da fonte de electrões. Além disso, ao incorporar os mais de 10 anos de experiência da JEOL no design, melhorámos significativamente a estabilidade mecânica e eléctrica. Análise EDS de alto rendimento e alta precisão O JEM-F200 pode ser equipado simultaneamente com dois detectores de desvio de silício (SDD) de grande área, proporcionando uma análise de alta sensibilidade. A grande área e a elevada sensibilidade permitem uma análise EDS eficiente numa fração de tempo com danos reduzidos. Além disso, a utilização de correção de desvio de alta velocidade e sem perdas através de imagens STEM em tempo real durante o mapeamento EDS permite medições eficientes, reduzindo os danos nas amostras provocados pelo feixe de electrões. Análise EELS com alta resolução de energia O CFEG do JEM-F200 pode obter análises dos estados de ligação química e da estrutura eletrónica com uma elevada resolução de energia, ultrapassando as capacidades de um canhão de electrões de emissão de campo Schottky. Isto é possível graças à incorporação de um canhão de electrões de emissão de campo a frio que garante uma resolução de alta energia (<0,33 eV) com EELS (opção). Operação fácil com o mínimo de esforço, mesmo para principiantes