Espectrômetro visível JPS-9030

de raios Xde transferência

O JPS-9030 está equipado com uma interface de utilizador recentemente concebida que melhora ainda mais a operabilidade e também apresenta um novo design exterior sofisticado, moderno e elegante. Perfil de profundidade optimizado para a aplicação A recém-desenvolvida fonte de iões de gravação do tipo Kaufman fornece taxas de gravação de 1 nm/min a 100 nm/min (equivalente a SiO2) e permite uma vasta gama de definições. É capaz de perfis de profundidade adequados a qualquer aplicação, desde medições que exijam precisão até processos que exijam velocidade. A montagem da fonte de iões de gravura do tipo Kaufman na câmara de troca de amostras facilita a prevenção da contaminação da câmara de medição. O software recentemente desenvolvido proporciona uma maior facilidade de utilização O SpecSurf Ver. 2.0 incorpora agora uma GUI tipo fita, oferecendo um ambiente de fácil utilização em que todas as operações podem ser realizadas com o rato. Com a função de análise qualitativa automática da JEOL, é possível efetuar sequencialmente análises qualitativas, quantitativas e de estado químico para vários pontos de aquisição. Sensibilidade de superfície ultra-alta O JPS-9030 suporta técnicas como o XPS resolvido em ângulo (ARXPS) e o XPS de reflexão total (TRXPS), e é capaz de efetuar análises ultra-sensíveis das superfícies superiores de 1 nm (método de medição padrão de 6 nm ou mais). Uma grande variedade de opções Fontes de raios X monocromáticas Fonte de iões de cluster de gás árgon adequada para amostras orgânicas Sistema de aquecimento por infravermelhos capaz de atingir temperaturas de 1.000 °C ou superiores Recipiente de transferência para proteger as amostras da exposição à atmosfera Especificações Intensidade (Mg Kα, equivalente a 300W) - 1.000.000 cps ou mais (a Ag 3d5/2 FWHM é 1,0 eV) Fonte de raios X - Ânodo duplo Mg/Al