Microscópio de raios X GRAND ARM™2

TEMSTEMde laboratório

Este novo "GRAND ARM™2" permite a observação com uma resolução espacial ultraelevada e uma análise altamente sensível numa vasta gama de tensões de aceleração. FHP2, a nova lente objetiva desenvolvida A peça de pólo da lente objetiva FHP está optimizada para observação de resolução espacial ultra-elevada. Mantendo esta capacidade, a forma do poste foi ainda mais optimizada para o ângulo sólido dos raios X e o ângulo de descolagem dos SDDs duplos de grandes dimensões (158 mm2). Como resultado, a eficiência efectiva de deteção de raios X do FHP2 é mais de duas vezes mais sensível do que a do FHP. Pode fornecer uma resolução sub-angstrom em mapas elementares EDS. A coluna TEM é coberta por um invólucro do tipo caixa, que pode reduzir o efeito das alterações ambientais, como a temperatura, o fluxo de ar, o ruído acústico, etc., melhorando assim a estabilidade do microscópio. Corretor ETA e JEOL COSMO™ Correção rápida e precisa da aberração O JEOL COSMO™ utiliza apenas 2 Ronchigramas adquiridos de qualquer área amorfa para medir e corrigir aberrações. Por conseguinte, o sistema pode fornecer uma correção de aberrações rápida e precisa sem amostras dedicadas. Melhoria da estabilidade O novo CFEG (Cold Field Emission Electron Gun) adoptou um SIP mais pequeno com um volume de evacuação maior do que o anterior para o GRAND ARM™2. O aumento do volume de evacuação do SIP melhora o grau de vácuo perto do emissor dentro do CFEG e também melhora a estabilidade das correntes de emissão e de sonda. A miniaturização do SIP pode reduzir a massa total do CFEG em cerca de 100 kg. A redução do peso do CFEG melhora a resistência à vibração do microscópio.