Espectrômetro XRF M4L
para pesquisade bancada

Espectrômetro XRF - M4L - Microptik BV - para pesquisa / de bancada
Espectrômetro XRF - M4L - Microptik BV - para pesquisa / de bancada
Guardar nos favoritos
Comparar
 

Características

Tipo
XRF
Aplicações
para pesquisa
Configuração
de bancada
Comprimento

455 mm
(17,9 in)

Largura

301 mm
(11,9 in)

Altura

302 mm
(11,9 in)

Peso

25 kg
(55,1 lb)

Descrição

MicrOptik's XRF M4L foi concebido para a investigação laboratorial de vários tipos de objectos. O analisador dispõe de uma ampla câmara de medição com tampa accionada por actuador. O livre acesso a toda a superfície da mesa de medição permite definir amostras de qualquer dimensão. O analisador está equipado com um sistema de canal de purga de hélio e impressora térmica incorporada. Amostrador automático como opção. CARACTERÍSTICAS TÉCNICAS DE ANALISADOR EXPERIOR 4l Tempo de funcionamento contínuo Não limitado Tempo de fornecimento autónomo de energia Pelo menos 6 horas Alimentação eléctrica - AC, 50/60 Hz 100-240 V Unidade de medição do consumo de energia Inferior a 30W Dimensões da câmara de medição 397x225x153 mm Peso máximo da amostra medida De 1 mg a 20 kg Garantia Não inferior a 1 ano CONDIÇÕES DE FUNCIONAMENTO Gama de temperaturas de funcionamento -10°C a +45°C Humidade relativa dentro do intervalo de temperatura de funcionamento <90%

---

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da Microptik BV
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.