Os sistemas de microscópio de IV Spotlight™ foram concebidos para responder aos desafios de um laboratório em expansão, gerando dados reprodutíveis e de alta qualidade a partir de uma variedade de tipos de amostras. O sistema de imagiologia FT-IR Spotlight 400 combina uma elevada sensibilidade e uma imagiologia rápida com facilidade de utilização. A capacidade de obter rapidamente imagens de grandes áreas de amostras com elevada resolução espacial alarga a microscopia FT-IR a novas aplicações.
Visão geral
O sistema de imagiologia FT-IR Spotlight 400 foi concebido com tecnologia de ponta para permitir uma automatização inteligente e capacidades de análise sofisticadas. O sistema incorpora uma série de ferramentas de produtividade únicas e inclui um sistema de imagem ATR que permite a recolha de imagens de infravermelhos de alta resolução de amostras extremamente pequenas para visualizar a composição de materiais com base em dados espectrais FT-IR.
As caraterísticas únicas do sistema Spotlight 400 incluem:
Produção espetral de alta qualidade e imagens de áreas de amostras, produzindo resoluções de píxeis de 6,25, 25 ou 50 microns
Localização da região de interesse (ROI) para facilitar a análise de várias partículas e camadas de uma só vez
Configurabilidade para ser utilizada com infravermelhos médios de gama alargada, infravermelhos próximos ou FT-IR de gama dupla com o sistema Spectrum 3™ para fornecer o máximo de informação das amostras no menor tempo possível.
Configurabilidade para ser usada com FT-IR de gama média, próxima ou dupla com os sistemas Spectrum 3™ para fornecer o máximo de informações de amostras no menor tempo possível.
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