O TopMap Micro.View é um perfilador ótico compacto e fácil de utilizar. Combine desempenho excecional e preço acessível com esta poderosa solução de metrologia. Com uma gama de medição Z alargada de 100 mm e a tecnologia de varrimento contínuo CST, o Micro.View mede topografias complexas com uma resolução de nm. Esta prática configuração de mesa inclui eletrónica integrada, com o localizador de focagem inteligente que simplifica e acelera o procedimento de medição.
Destaques
Medir o acabamento da superfície numa configuração compacta
Medição sem contacto da topografia 3D, rugosidade e textura
gama de medição z de 100 mm com a tecnologia de varrimento contínuo CST
Excelente resolução lateral
Escolha entre objectivas específicas para cada aplicação
Pequenas dimensões com capacidade alargada
Beneficie da Tecnologia de Compensação Ambiental ECT opcional, assegurando resultados de medição fiáveis e precisos, mesmo em ambientes de produção ruidosos e desafiantes. O Micro.View é o instrumento de controlo de qualidade rentável para inspecionar superfícies de engenharia de precisão, tanto no fabrico como na investigação.
Sistema de microscópio para a caraterização de superfícies
A luz branca realça os mais pequenos detalhes das suas superfícies de engenharia de precisão. As objectivas do microscópio permitem caraterizar o acabamento da superfície e quantificar o grau de rugosidade ou suavidade das superfícies das peças. Beneficie das medições de superfície motorizadas e do posicionamento automático. O Focus Finder ajuda-o automaticamente, para que se possa concentrar na qualidade da sua superfície.
A medição de precisão tem a ver com experiência, com conhecimentos e com especialistas e tecnologia em que confiamos. Veja os bastidores,
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