O S wide é um sistema dedicado concebido para medir rapidamente grandes áreas de amostras até 300 x 300 mm. Oferece todas as vantagens de um microscópio digital integrado num instrumento de medição de alta resolução. Extremamente fácil de utilizar com um único botão de aquisição.
SOLUÇÕES
Sistema de metrologia ótica 3D para grandes áreas
Fabrico avançado
Arqueologia e Paleontologia
Eletrónica de consumo
Dispositivos médicos
Moldagem
Ótica
Indústria de relógios
Repetibilidade da altura submicrónica em toda a área alargada
Medição de altura num só disparo até 40 mm sem varrimento Z
Lentes bi-telecêntricas com distorção de campo muito baixa, proporcionando uma metrologia precisa
Desvio de forma de modelos CAD 3D
que permite a medição da diferença geométrica e da tolerância
Lentes bi-telecêntricas com distorção de campo muito reduzida que proporcionam uma metrologia exacta
Desvio de forma em relação aos modelos CAD 3D
fornecendo a medição da diferença geométrica e da tolerância
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