O monitor de espessura de película compacto é um medidor de espessura de película espetrofotométrico de reflexão que utiliza uma pequena sonda de reflexão e é aplicável em todas as situações, desde o nível laboratorial até à inspeção em linha a 100% no processo de produção. Tem uma excelente capacidade de manutenção e pode ser utilizado para incorporação em equipamento de processo e gestão de linha.
É possível a medição simultânea de até 9 tipos de películas transparentes.
Pode ser utilizado como um monitor em linha ou de ponto final para os vários processos de películas multicamadas.
A sonda compacta pode ser instalada num pequeno espaço dentro da ferramenta de processo. Também é possível avaliar o rácio de mistura da camada mista ou a cristalinidade do poli-silício utilizando a teoria EMA.
Sonda compacta com fibra ótica
pode ser instalada num espaço pequeno no interior da ferramenta de processamento.
Boa repetibilidade da medição da espessura da película 0,1 nm(3a)
Medição da espessura de películas multicamadas até 9 camadas
Função de análise de materiais
- Avaliação do rácio de mistura do material compósito utilizando EMA
- Cristalinidade e análise das constantes ópticas
Sem fios (opção)
Inclui software de deteção do ponto final da espessura da película
Fase de mapeamento automático(Opção)
Requisitos de sistema recomendados
Temperatura ambiente - : 18 a 45 ℃
Longo prazo - : < ±2.0℃/24Horas
Curto prazo - : < ±1.0℃/1Hora
Humidade - : 45±20% (Sem condensação)
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