Microscópio óptico VEGA

SEMde laboratóriopara inspeção

SEM analítico para caracterização rotineira de materiais, pesquisa e controle de qualidade em escala de mícrons O microscópio eletrônico de varredura (SEM) de 4ª geração VEGA de TESCAN com fonte de elétrons de filamento de tungstênio combina imagens SEM e análise de composição elementar ao vivo em uma única janela do software Essence™ da TESCAN. Essa combinação simplifica significativamente a aquisição de dados morfológicos e elementares da amostra, tornando o VEGA SEM uma solução analítica eficiente para inspeção de rotina dos materiais nos laboratórios de controle de qualidade, análise de falhas e pesquisa. Plataforma analítica com o TESCAN Essence™ EDS totalmente integrado, que combina com eficiência a imagem SEM com a análise da composição elementar em uma única janela do software Essence™. Ótimas condições de imagem e analíticas disponíveis imediatamente, graças ao design óptico sem abertura da TESCAN, alimentado pelo in flight Beam Tracing™. Navegação SEM sem esforço e precisa na amostra em ampliações tão baixas quanto 2 × sem a necessidade de uma câmera de navegação óptica adicional devido ao design exclusivo Wide Field Optics™. Modo SingleVac™ como um recurso padrão para observação de amostras sensíveis a carga e feixe. Software Essence™ intuitivo e modular, projetado para operação sem esforço, independentemente do nível de experiência do usuário. A segurança máxima dos detectores montados na câmara quando o palco e a amostra estão em movimento é garantida com o modelo Essence™ 3D Collision. Detectores opcionais SE e BSE na coluna estão disponíveis,