Microscópio óptico CLARA

SEMpara biologiapara inspeção

MEV-FEG de Ultra-alta Resolução analítico livre de campo para caracterização de materiais em nanoescala Caracterização total de todos os tipos de materiais em nanoescala Ideal para caracterização de materiais em baixa aceleração de feixe para máxima topografia da superfície Excelente imagem de amostras sensíveis ao feixe e não condutoras Configuração totalmente automatizada do feixe de elétrons – condições ótimas de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing ™ Navegação intuitiva do MEV ao vivo na amostra com baixa ampliação 2 vezes, sem a necessidade de câmera de navegação óptica extra, graças ao design Wide Field Optics ™ Design exclusivo do detector múltiplo, permitindo detecção seletiva de BSE em ângulo e energia Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários