O Phoenix V|tome|x L 300 é um sistema versátil de microfoco de alta resolução com opção nanoCT® para tomografia computadorizada 3D (análise de falhas estruturais e metrologia) e inspeção 2D não destrutiva por raios X.
A tomografia computadorizada de alta resolução de amostras grandes e densas começa aqui
O sistema Phoenix V|tome|x L 300 é equipado com uma fonte de microfoco unipolar de 300 kV/500 W e capacidade nanoCT opcional em combinação Dual|tube com um tubo de raios X de nanofoco de alta potência de 180kV/20W para melhor detecção de detalhes de 2,0µm.
O scanner de TC lida com amostras grandes de até 50 kg e até 600 mm de diâmetro com precisão extremamente alta. O sistema é uma excelente solução flexível para detecção de aberturas e falhas em compostos, peças fundidas e peças de precisão, por exemplo, peças fabricadas com aditivos ou pás de turbinas. Permite também metrologia 3D de alta precisão em conformidade com VDI/VDE 2630-1.3.
Benefits
Unique Benefits:
Micro- and nanoCT Scanning at the limits of sample size and density (to 50 kg and up to 600 mm in diameter)
Great flexibility for 2D and 3D inspection on a wide application range
Features
Some of the Phoenix V|tome|x L 300 features are:
Fast CT acquisition and brilliant images by next generation highly sensitive Dynamic 41 detectors
Leading exclusive Waygate Technologies core components such as X-ray tubes, detectors, software
Patented optional features such as High-flux|target or Scatter|correct technology
- Leading measurement accuracy of SD ≤ (6.8 ± L/100 mm) µm referring to VDI/VDE 2630-1.3 for i.e. reliable revalidation of system performance