Medidor para espectrômetros DSR300

de controlede tensãode bancada

O sistema de medição de resposta espetral micro-nano da série DSR300 é dedicado a materiais de baixa dimensão, fornecendo varrimento espetral de alta precisão e medição de varrimento de foto-corrente. o ponto de deteção de 40 m faz com que o sistema possa medir a amostra de tamanho mínimo de 100 μm. A fonte de luz de estabilidade ultra-alta fornece a alta precisão; Várias fontes de luz podem ser integradas no sistema para medir uma variedade de detectores. O software amigável é fácil de usar e controla automaticamente o dispositivo para operar. Função： responsividade espetral eficiência quântica externa curva IT de tensão de polarização mapeamento do LBIC teste de linearidade da resposta Parâmetro técnico principal Fonte de luz Fonte de luz Xenon Gama espetral: 250 - 1800 nm Instabilidade: ＜ 1% Fonte de luz supercontínua Gama espetral: 400 - 2400 nm Frequência: 0,01 - 200 MHz Largura do pulso: 100 ps Laser CW Comprimento de onda opcional: 405 nm, 532 nm, 633 nm, 808 nm, 980 nm; Instabilidade: ＜ 1% Laser pulsado Comprimento de onda opcional: 375 nm, 405 nm, 488 nm, 785 nm, 976 nm; largura do impulso: 100 ps Frequência: 1-20 MHz Micro lente lente objetiva de 10x (padrão) Distância de trabalho＞17 mm NA: 0,42 Gama espetral: 350 - 800 nm lente objetiva de 50x Distância de trabalho＞17 mm NA: 0,42 Gama espetral: 480 - 1800 nm lente objetiva UV de 50x Distância de trabalho＞12 mm NA: 0,42 Gama espetral: 240 - 500 nm lente objetiva reflectora de 40x Distância de trabalho＞7,8 mm NA: 0,5 Gama espetral: 200 nm - 20 um Unidade de aquisição de dados Amplificador Lock-in Frequência: 20 Hz - 1 KHz Desvio: ＜ 0,1°/℃ abaixo de 10 kHz Modo de entrada de tensão ou corrente Sensibilidade de escala total de 1nV a 1V Ganho de corrente 106 ou 108 V/A Reserva dinâmica >100 dB Visor: X、Y、R、θ