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Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,7 nm
... O SU8600 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo frio de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma CFE-SEM incorpora imagens multifacetadas, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" a pedido. Uma robusta câmara de amostras "draw-out" acomoda amostras de grandes dimensões (-200 mmφ, -80 mmH). Troca rápida de amostras com evacuação ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... O HT7800 RuliTEM é um microscópio eletrónico de transmissão (TEM) de 120 kV com várias configurações de lentes, incluindo uma lente padrão para um elevado contraste insuperável e uma lente HR líder na sua classe para ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolução espacial: 4, 1,6, 2,1 nm
... verdadeiro corte em série de alta resolução, de modo a responder às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O sistema FIB-SEM NX9000 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm
... O SU8600 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo frio de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma CFE-SEM incorpora imagens multifacetadas, ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 2,1, 1,6 nm
... um verdadeiro corte em série de alta resolução, para fazer face às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O recém-desenvolvido ...
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