Microscópios de bancada TESCAN

Ampliação : 1.000.000 unit

... Provando que o nível de entrada não tem de significar comprometer os resultados, o TESCAN VEGA Compact oferece uma solução SEM analítica completa para laboratórios que dão prioridade a uma operação fácil e a um tempo ...

SEM analítico para caracterização rotineira de materiais, pesquisa e controle de qualidade em escala de mícrons O microscópio eletrônico de varredura (SEM) de 4ª geração VEGA de TESCAN com fonte de elétrons de filamento ...

... resolução para caracterização rotineira de materiais, pesquisa e aplicações de controle de qualidade na escala submicron. O Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM) de 4ª geração MIRA de TESCAN com a fonte de emissão ...

MEV-FEG de Ultra-alta Resolução analítico livre de campo para caracterização de materiais em nanoescala Caracterização total de todos os tipos de materiais em nanoescala Ideal para caracterização de materiais em baixa aceleração ...

Imagens de alta resolução e alto contraste de materiais de última geração (por exemplo, estruturas catalisadoras, nanotubos, nanopartículas e outras estruturas em nanoescala) Excelente plataforma adequada para metrologia MEV/STEM em ...

... , um SEM equipado com um micrótomo especial na câmara é capaz de analisar volumes de dimensões excepcionais no campo da microscopia electrónica - podem ser examinados blocos de quase um milímetro cúbico, o que nos permite ...

MEV-FIB nano analítico versátil para expandir seus recursos de pesquisa de materiais Preparação de microamostras de alta precisão Imagem e nanoanálise MEV-FEG em Ultra-alta Resolução livre de campo Campo de visão ampliado e navegação ...

Uma combinação única de FIB de plasma e MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo para caracterização de materiais em múltiplas escalas Processamento FIB de grande área e alta produtividade até 1 mm Preparação de microamostras ...