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Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,9, 0,8 nm
... O SU8700 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo Schottky de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma FE-SEM incorpora imagens ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 50.000, 60.000, 10.000, 30.000, 15.000 unit
Resolução espacial: 4, 5 nm
... configuração de fácil utilização em laboratório. Tendo em mente a eficiência, o FlexSEM apresenta um design adaptável, separável e compacto, de modo a poder ser instalado em espaços limitados de escritórios, laboratórios ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Comprimento: 617, 614 mm
... A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm
... de 100 mm2 simetricamente opostos: "Symmetrical Dual SDD*" Nova caixa concebida para um desempenho ótimo em ambientes laboratoriais reais Uma vasta gama de suportes de amostras avançados Hitachi FEG frio de alto brilho×Alta ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... O HT7800 RuliTEM é um microscópio eletrónico de transmissão (TEM) de 120 kV com várias configurações de lentes, incluindo uma lente padrão para um elevado contraste insuperável e uma lente HR líder na sua classe para ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,4, 0,7 nm
... aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Características O novo design ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... O SU8700 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo Schottky de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma FE-SEM incorpora imagens ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm
... O SU8600 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo frio de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma CFE-SEM incorpora imagens multifacetadas, ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm
... para abordar estes aspectos e muito mais, fornecendo informações melhoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica. Experimente o nano-mundo com o SU7000! *A fotografia do dispositivo mostra ...
Hitachi High-Technologies
... principiantes tornam-se peritos de um dia para o outro. A tecnologia de ajuste automático do eixo (auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" a pedido. Uma robusta câmara de amostras "draw-out" ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Largura: 330 mm
... A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Controlo de orientação da amostra totalmente integrado para Efeito Anti-Curtaining (tecnologia ACE) Preparação de amostras TEM para lamelas uniformes em qualquer orientação 4. Capacidade de feixe triplo, fornecendo ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 2,1, 1,6 nm
... verdadeiro corte em série de alta resolução, para fazer face às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O recém-desenvolvido sistema FIB-SEM da Hitachi, o NX9000, incorpora uma disposição ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... suportam uma preparação de amostras TEM de alto rendimento e alta qualidade para aplicações de ponta. * Opção Características A deteção de ponto final SEM em tempo real e de alto contraste permite a preparação de amostras ...
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