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Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm
... Equipado com uma câmara de vácuo para amostras de 150 mm como padrão, o SU8700 oferece um elevado rendimento de amostras, mesmo para amostras maiores, e um ambiente de câmara de amostras constantemente limpo para imagens de alta resolução ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 6, 8.000.000 unit
Resolução espacial: 15, 4 nm
... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer comprometer o desempenho ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Comprimento: 617 mm
... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm
... amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor de Cs totalmente automatizado, mesmo ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolução espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm
... A família HT7800 suporta uma vasta gama de aplicações, desde as ciências da vida à ciência dos materiais. Está disponível em três variantes diferentes de pólos, sempre com base na nossa lente objetiva patenteada para alternar rapidamente ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 5 unit - 600.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 2,5 nm
... observação personalizáveis asseguram resultados consistentes e de alta qualidade com um mínimo de intervenção, ideal para laboratórios centrados na eficiência. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 0 unit
Resolução espacial: 4, 60 nm
... FIB-SEM NX5000 "ETHOS" destina-se a aplicações avançadas de precisão de posição nas áreas da produção automatizada de lamelas TEM ultrafinas para TEM/STEM com correção de aberrações, exame SEM de alta resolução e multissinal ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolução espacial: 1,6, 2,1, 4 nm
... Neste sistema único, as colunas Ga-FIB e FE-SEM estão em ângulo reto entre si. Esta configuração é ideal para aplicações em que grandes volumes (tecidos biológicos, materiais com grandes estruturas granulares, componentes de semicondutores, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolução espacial: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... O NX2000 é um FIB-SEM optimizado para aplicações de semicondutores (análise de defeitos com importação de coordenadas KLARF, extração de lamelas TEM, desenvolvimento de dispositivos). Com um curso X,Y de 205 x 205 mm, a plataforma de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,4, 0,7 nm
... aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Características O novo design ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... O SU8700 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo Schottky de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma FE-SEM incorpora imagens ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm
... O SU8600 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo frio de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma CFE-SEM incorpora imagens multifacetadas, ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm
... para abordar estes aspectos e muito mais, fornecendo informações melhoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica. Experimente o nano-mundo com o SU7000! *A fotografia do dispositivo mostra ...
Hitachi High-Technologies
... principiantes tornam-se peritos de um dia para o outro. A tecnologia de ajuste automático do eixo (auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" a pedido. Uma robusta câmara de amostras "draw-out" ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Largura: 330 mm
... A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Controlo de orientação da amostra totalmente integrado para Efeito Anti-Curtaining (tecnologia ACE) Preparação de amostras TEM para lamelas uniformes em qualquer orientação 4. Capacidade de feixe triplo, fornecendo ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 2,1, 1,6 nm
... verdadeiro corte em série de alta resolução, para fazer face às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O recém-desenvolvido sistema FIB-SEM da Hitachi, o NX9000, incorpora uma disposição ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... suportam uma preparação de amostras TEM de alto rendimento e alta qualidade para aplicações de ponta. * Opção Características A deteção de ponto final SEM em tempo real e de alto contraste permite a preparação de amostras ...
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