e encontre todos os seus clientes num mesmo sítio durante todo o ano
Seja um expositor
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,4, 1,2, 0,8 nm
... aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Visão geral O SU9000II é ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 50.000, 60.000, 15.000, 10.000, 30.000 unit
Resolução espacial: 4, 5 nm
... Este SEM funciona com energia limpa para uma ferramenta analítica económica, sem comprometer o desempenho. Visão geral O Microscópio Eletrónico de Varrimento FlexSEM 1000 II possui sistemas de deteção de sinal e ótica ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Comprimento: 617, 614 mm
... A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolução espacial: 0,7, 1,5, 4, 50, 60 nm
... Controlo da orientação da amostra totalmente integrado para Efeito Anti-Curtaining (tecnologia ACE) Preparação de amostras TEM para lamelas uniformes em qualquer orientação 4. Capacidade de feixe triplo, fornecendo ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Resolução espacial: 4, 1,6, 2,1 nm
... corte em série de alta resolução, de modo a responder às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O sistema FIB-SEM NX9000 permite a mais elevada precisão no processamento de materiais ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,4, 0,7 nm
... aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Características O novo design ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... O SU8700 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo Schottky de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma FE-SEM incorpora imagens ...
Hitachi High-Technologies
Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
Peso: 54 kg
Largura: 330 mm
... A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Controlo de orientação da amostra totalmente integrado para Efeito Anti-Curtaining (tecnologia ACE) Preparação de amostras TEM para lamelas uniformes em qualquer orientação 4. Capacidade de feixe triplo, fornecendo ...
Hitachi High-Technologies
e encontre todos os seus clientes num mesmo sítio durante todo o ano
Seja um expositor
Poderia especificar?
Ajude-nos a melhorar o serviço que lhe prestamos:
restantes