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Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm
... aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Visão geral O SU9000II é ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,6, 0,7 nm
... O SU8600 traz uma nova era de microscópios electrónicos de varrimento por emissão de campo frio de resolução ultra-alta para a linha Hitachi EM de longa data. Esta revolucionária plataforma CFE-SEM incorpora imagens multifacetadas, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm
... para abordar estes aspectos e muito mais, fornecendo informações melhoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica. Experimente o nano-mundo com o SU7000! Características Conceito chave 1.Capacidade ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... principiantes tornam-se peritos de um dia para o outro. A tecnologia de ajuste automático do eixo (auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" a pedido. Uma robusta câmara de amostras "draw-out" ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 60.000, 50.000, 10.000, 15.000, 30.000 unit
Resolução espacial: 4, 5 nm
... Este SEM funciona com energia limpa para uma ferramenta analítica económica, sem comprometer o desempenho. Visão geral O Microscópio Eletrónico de Varrimento FlexSEM 1000 II possui sistemas de deteção de sinal e ótica ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,1, 0,08 nm
... O exclusivo TEM/STEM de 200 kV com correção de aberrações da Hitachi: a harmonia perfeita entre resolução de imagem e desempenho analítico 0.a resolução espacial de 078 nm no STEM é conseguida em conjunto com uma elevada capacidade de ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Ampliação : 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... num só microscópio. O funcionamento normal com luz ambiente e as funções automatizadas permitem que tanto os operadores novatos como os experientes utilizem o sistema de forma eficaz. A função avançada de navegação ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... principiantes tornam-se peritos de um dia para o outro. A tecnologia de ajuste automático do eixo (auto-calibração) restaura o microscópio para a sua "melhor condição" a pedido. Uma robusta câmara de amostras "draw-out" ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 2,1, 1,6 nm
... verdadeiro corte em série de alta resolução, para fazer face às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O recém-desenvolvido sistema FIB-SEM da Hitachi, o NX9000, incorpora uma disposição ...
Hitachi High-Technologies
Resolução espacial: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... suportam uma preparação de amostras TEM de alto rendimento e alta qualidade para aplicações de ponta. * Opção Características A deteção de ponto final SEM em tempo real e de alto contraste permite a preparação de amostras ...
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