Microscópios de piso Hitachi

2 empresas | 13 produtos
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
microscópio SEM
microscópio SEM
SU9000 II

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... O SU9000 II é uma combinação de SEM de imagem de superfície e microscópio de transmissão de varrimento com resolução de estrutura intrínseca (STEM) optimizado para uma resolução extrema. Isto é possível graças à ótica ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU8700

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm

... Equipado com uma câmara de vácuo para amostras de 150 mm como padrão, o SU8700 oferece um elevado rendimento de amostras, mesmo para amostras maiores, e um ambiente de câmara de amostras constantemente limpo para imagens ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio CFE-SEM
microscópio CFE-SEM
SU8600

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm

... O SU8600 é o sucessor da comprovada família de SEM de emissão de campo Regulus e cumpre os mais elevados requisitos para aplicações orientadas para a obtenção de imagens. O emissor de campo frio com a sua emissão quase ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU7000

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,9 nm

... O SU7000 é ideal para amostras grandes ou pesadas e para integrar uma vasta gama de acessórios. Estes acessórios incluem detectores analíticos ou acessórios de palco para manipulação de amostras in-situ (estiramento [tração] / compressão, ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
SU3800/3900 Family

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... o SU3900 possuem software, eletrónica e plataforma de detetor comuns. Caraterísticas do produto: - Detectores Hitachi de elevada eficiência: -- Detetor de electrões secundários para alto vácuo -- Detetor de electrões ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
FlexSEM II

Ampliação : 6, 8.000.000 unit
Resolução espacial: 15, 4 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer comprometer o desempenho ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio STEM
microscópio STEM
HF5000

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor de Cs totalmente automatizado, mesmo ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio TEM
microscópio TEM
HT7800 Series

Ampliação : 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolução espacial: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... aplicações, desde as ciências da vida à ciência dos materiais. Está disponível em três variantes diferentes de pólos, sempre com base na nossa lente objetiva patenteada para alternar rapidamente entre alto contraste e ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio FE-SEM
microscópio FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Ampliação : 5 unit - 600.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 2,5 nm

... grandes dimensões. Imagens de alta resolução e alinhamento automático - A ótica de emissão de campo Schottky oferece um elevado desempenho de imagem sem interferências magnéticas ou eléctricas. O modo de pressão variável ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
NX5000

Ampliação : 0 unit
Resolução espacial: 4, 60 nm

... FIB-SEM NX5000 "ETHOS" destina-se a aplicações avançadas de precisão de posição nas áreas da produção automatizada de lamelas TEM ultrafinas para TEM/STEM com correção de aberrações, exame SEM de alta resolução e multissinal ...

Ver outros produtos
Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio FIB/SEM
microscópio FIB/SEM
NX9000

Resolução espacial: 2,1, 1,6 nm

... resolução, para fazer face às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O sistema FIB-SEM NX9000 permite a mais elevada precisão no processamento de materiais para ...

Exponha os seus produtos

e encontre todos os seus clientes num mesmo sítio durante todo o ano

Seja um expositor