Microscópios TEM Hitachi

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,4, 1,2, 0,8 nm

... aquisição de dados automatizada, especialmente a recolha de dados sequenciais. Além disso, o design exclusivo do sistema ótico tem uma capacidade de EELS para análise avançada de materiais. Visão geral O SU9000II é ...

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... imagem SE com correção de Cs. Incorpora também as tecnologias avançadas TEM/STEM desenvolvidas na série HF. A integração destas tecnologias acumuladas numa nova plataforma TEM/STEM de 200 kV resulta ...

Ampliação : 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... O HT7800 RuliTEM é um microscópio eletrónico de transmissão (TEM) de 120 kV com várias configurações de lentes, incluindo uma lente padrão para um elevado contraste insuperável e uma lente HR líder na ...

Resolução espacial: 0,7, 1,5, 4, 50, 60 nm

... Controlo da orientação da amostra totalmente integrado para Efeito Anti-Curtaining (tecnologia ACE) Preparação de amostras TEM para lamelas uniformes em qualquer orientação 4. Capacidade de feixe triplo, fornecendo ...

Resolução espacial: 4, 1,6, 2,1 nm

... corte em série de alta resolução, de modo a responder às mais recentes exigências na análise estrutural 3D e para análises TEM e 3DAP. O sistema FIB-SEM NX9000 permite a mais elevada precisão no processamento de materiais ...

Resolução espacial: 2,8, 3,5, 4, 60 nm

... suportam uma preparação de amostras TEM de alto rendimento e alta qualidade para aplicações de ponta. * Opção Caraterísticas A deteção de ponto final SEM de alto contraste e em tempo real permite a preparação de amostras ...