Sistemas de preparação de amostras Hitachi

... incidência da FIB Exemplo de configuração do sistema Sistema FIB-STEM Um novo sistema de avaliação de dispositivos semicondutores desenvolvido consiste num sistema ...

... O elétrodo do tipo magnetrão diminui os danos nas amostras e reduz o tamanho médio das partículas Câmara opcional para amostras de até 6 pol. (150 mm) de diâmetro Espaçador opcional para amostras ...

... superfície da amostra e o feixe de electrões irradiado geram contaminação da amostra. Os hidrocarbonetos são geralmente ligados de forma não covalente à superfície do espécime durante o manuseamento, ...

... transversais como a fresagem plana para preparar amostras, dependendo do objetivo. O controlo da temperatura de arrefecimento, a unidade de suporte de proteção do ar e várias opções permitem a preparação ...

... O mais avançado sistema de feixe de iões largos para produzir amostras de secção transversal ou de fresagem plana de excecional qualidade para microscopia eletrónica. Características Taxa de fresagem ...

... utilizar para a preparação de amostras pré-analíticas, garantindo os melhores dados possíveis das suas amostras TEM. Visão geral As superfícies das amostras estão ...